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HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät

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CHINA HUATEC GROUP CORPORATION zertifizierungen
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Breite Palette von NDT Produkten, können wir alle in Huatec Gruppe erhalten. Wir möchten von ihnen zu kaufen. Rudolf Shteinman Russland

—— Rudolf Shteinman

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Huatec-Härteprüfgerät, sehr gute Qualität, wir sind sehr zufrieden mit das tragbare Härtemessgerät RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

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HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät

HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät
HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät

Großes Bild :  HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät

Produktdetails:
Herkunftsort: China
Markenname: HUATEC
Zertifizierung: CE
Modellnummer: HXRF-450S
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1 PC
Preis: USD14145/set - USD15990/set
Verpackung Informationen: Kartonverpackung
Lieferzeit: 10-15 Werktage nach Eingang Ihrer Zahlung
Zahlungsbedingungen: T/T, Paypal
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 5 Sätze/Monat
Kontakt

HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät

Beschreibung
Messbereich:: Aluminium (Al) - Uran (U) Detektor: SDD
Testzeit: 10-40s Röhrenstrom: 0-1mA (programmbestimmt)
Hochdruck: 0-50 kV (programmgesteuert) Vergrößerung: Optik: 40-60 ×
Eingangsspannung:: AC220V ±10 % 50/60 Hz
Hervorheben:

Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät

,

Hochstabiles RFA-Spektrometer

,

Zerstörungsfreier Schichtdickenanalysator

HXRF-450S Hochstabilitäts-Röntgenfluoreszenz-Spektrometer für die Dicke der Beschichtung
Produktspezifikationen
Eigenschaft Wert
Messelementbereich Aluminium (Al) - Uran (U)
Detektor SDD
Prüfzeit 10 bis 40 Jahre
Rohrstrom 0-1mA (programmgesteuert)
Hoher Druck 0-50 kV (programmgesteuert)
Vergrößerung Optik: 40-60 ×
Eingangsspannung AC220V ± 10% 50/60HZ
Produktübersicht

The HXRF-450S XRF X-ray Fluorescence Coating Painting Thickness Tester is a high-performance instrument designed for precise coating thickness measurement and material analysis across various industries.

Arbeitsbedingungen
  • Betriebstemperatur: 15-30°C
  • Relative Luftfeuchtigkeit: 40% bis 50%
  • Stromversorgung: Wechselstrom 220V ± 5V
Technische Leistung
  • Ausgezeichnete langfristige Stabilität mit minimalen Kalibrierungsanforderungen
  • Für Beschichtungssysteme, feste oder flüssige Proben ist keine Probenvorbereitung erforderlich
  • Umfassende Leistung einschließlich Beschichtungsanalyse, qualitative/quantitative Analyse, Badeanalyse und statistische Funktionen
Anwendungen

Ideal für elektronische Komponenten, Halbleiter, PCB, FPC, LED-Behälter, Autoteile, funktionelle Beschichtung, Dekorationsteile, Steckverbinder, Endgeräte, Sanitärwaren,Schmuck und andere Industriezweige zur Messung der Oberflächenbeschichtungsdicke und zur Materialanalyse.

Sicherheitsmerkmale
  • Einfache Benutzeroberfläche mit eingeschränkter Bedienerberechtigung
  • Instandhaltungsmöglichkeiten des Aufsichtspersonals
  • Automatische Nutzungsergebnisse des Bedieners
  • Automatisches Sperren zur Verhinderung eines unbefugten Betriebs
  • Probenkammer-Türsensor
  • Röntgenwarnlicht
  • Sicherheitsknöpfe auf der Front
Wesentliche Merkmale
  • Messungen bis zu 5 Schichten (4 Beschichtung + Substrat) gleichzeitig
  • Analysiert 15 Elemente mit automatischer Spektrallinienkorrektur
  • Hohe Messgenauigkeit (bis zu μin) mit ausgezeichneter Stabilität
  • Schnelle und zerstörungsfreie Messung (bis zu 10 Sekunden)
  • Analyse von Feststoffen und Lösungen mit qualitativen, halbquantitativen und quantitativen Fähigkeiten
  • Identifizierung und Klassifizierung von Stoffen
  • Umfassende Datenstatistiken (Durchschnitt, Standardabweichung usw.)
  • Mehrere Ausgabeoptionen (Druck, PDF, Excel) mit umfassender Berichterstattung
  • Vorsicht der Messposition mit 30x optischer Vergrößerung
  • Weltweiter Service und technische Unterstützung
Technische Parameter
Parameter Spezifikation
Messelementbereich Aluminium (Al) - Uran (U)
Detektor SDD
Kollimatortypen Einfach festgelegte Löcher (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Optisches Pfadsystem Vertikale Bestrahlung
Vergrößerung Optik: 40-60 ×
Anzeigemodi Elementarspektrum, Etikettmuster, Elemente und Messwerte
Kamera Industriebildkamera mit lokaler Vergrößerung
Anwendungen Einfach-/Doppelbeschichtung, Legierungsbeschichtung, Galvanisierungslösung
Eingangsspannung AC220V ± 10% 50/60HZ
Kommunikation Hochgeschwindigkeits-USB-Übertragung
Abmessungen 555*573*573mm (410*478*245mm Hohlraum)
Röntgenquelle Hochpräzise Mikrofokussierung (W Target)
Funktionen der Software FP-Algorithmus, automatische Fehlerdiagnose/Fehlerkorrektur, automatische Kompensation
Standardkonfiguration
SDD-Halbleiterdetektor
  • Elektrisch gekühlte SDD-Halbleiterdetektoren
  • Auflösung: 129 ± 5 EV
  • Verstärkungsschaltkreismodul für die Röntgenerkennung von Probenmerkmalen
Röntgenauslösung
  • Maximaler Glühlampenstrom: 1mA
  • Halbverlustkomponente, 50 Watt, Luftkühlung
Hochdrucktransmitter
  • Maximale Ausgangsspannung: 50 kV
  • Mindestens 5 kV steuerbare Einstellung
  • Selbstständiger Spannungsüberlastschutz
HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät 0 HXRF-450S Hochstabiles Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessgerät 1

Größe und Tag:

Zerstörungsfreie Prüfmaschine,

Ausrüstung Zerstörungsfreier Prüfung,

Inspektionswerkzeuge zerstörungsfreier Prüfung

Kontaktdaten
HUATEC GROUP CORPORATION

Ansprechpartner: Ms. Shifen Yuan

Telefon: 8610 82921131,8618610328618

Faxen: 86-10-82916893

Senden Sie Ihre Anfrage direkt an uns (0 / 3000)

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