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HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor

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Bescheinigung
CHINA HUATEC GROUP CORPORATION zertifizierungen
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Kunden-Berichte
Breite Palette von NDT Produkten, können wir alle in Huatec Gruppe erhalten. Wir möchten von ihnen zu kaufen. Rudolf Shteinman Russland

—— Rudolf Shteinman

Ich mag den Service, sehr schnelle Antwort, Berufsarbeit. Aret die Türkei

—— Aret Kaya

Huatec-Härteprüfgerät, sehr gute Qualität, wir sind sehr zufrieden mit das tragbare Härtemessgerät RHL-50. Kumaren Govender Sotuth Afrika

—— Kumaren Govender

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HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor

HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor
HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor

Großes Bild :  HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor

Produktdetails:
Herkunftsort: China
Markenname: HUATEC
Zertifizierung: CE
Modellnummer: HXRF-450S
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1 ST
Preis: USD14145/set - USD15990/set
Verpackung Informationen: Karton -Packbox
Lieferzeit: 10-15 Werktage nach Eingang Ihrer Zahlung
Zahlungsbedingungen: T/T, Paypal
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 5sets/month
Kontakt

HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor

Beschreibung
Messbereich:: Aluminium (Al) - Uran (U) Detektor: SDD
Test time: 10-40s Röhrenstrom: 0-1mA (programmbestimmt)
Hochdruck: 0-50 kV (programmgesteuert) Vergrößerung: Optik: 40-60 ×
Eingangsspannung:: AC220V ± 10% 50/60HZ
Hervorheben:

XRF Schichtdickenmessgerät

,

Röntgenfluoreszenz-Lacktester

,

Zerstörungsfreier Schichtdickenanalysator

HXRF-450S XRF Röntgenfluoreszenz-Beschichtungsdickenmessgerät
Produktspezifikationen
Attribut Wert
Messbereich der Elemente Aluminium (Al) - Uran (U)
Detektor SDD
Messzeit 10-40s
Röhrenstrom 0-1mA (Programmgesteuert)
Hochspannung 0-50kV (Programmgesteuert)
Vergrößerung Optik: 40-60×
Eingangsspannung AC220V±10% 50/60HZ
Produktübersicht

Das HXRF-450S XRF Röntgenfluoreszenz-Beschichtungsdickenmessgerät ist ein Hochleistungsinstrument, das für die präzise Messung der Beschichtungsdicke und die Materialanalyse in verschiedenen Branchen entwickelt wurde.

Arbeitsbedingungen
  • Betriebstemperatur: 15-30℃
  • Relative Luftfeuchtigkeit: 40%~50%
  • Stromversorgung: AC: 220V ± 5V
Technische Leistung
  • Hervorragende Langzeitstabilität mit minimalen Kalibrieranforderungen
  • Keine Probenvorbereitung für Beschichtungssysteme, Feststoff- oder Flüssigkeitsproben erforderlich
  • Umfassende Leistung einschließlich Beschichtungsanalyse, qualitativer/quantitativer Analyse, Badanalyse und statistischer Funktionen
Anwendungen

Ideal für elektronische Bauteile, Halbleiter, Leiterplatten, FPC, LED-Halterungen, Autoteile, Funktionsbeschichtungen, Dekorationsteile, Steckverbinder, Klemmen, Sanitärkeramik, Schmuck und andere Industrien zur Messung der Oberflächenbeschichtungsdicke und Materialanalyse.

Sicherheitsmerkmale
  • Einfache Benutzeroberfläche mit eingeschränkter Bedienerberechtigung
  • Wartungsmöglichkeiten für den Vorgesetzten
  • Automatische Aufzeichnungen der Bedienereinsätze
  • Automatische Sperrung zur Verhinderung unbefugter Bedienung
  • Sensoren für die Probenkammer
  • Röntgenwarnleuchte
  • Sicherheitstasten auf der Frontplatte
Hauptmerkmale
  • Misst bis zu 5 Schichten (4 Beschichtung + Substrat) gleichzeitig
  • Analysiert 15 Elemente mit automatischer Spektrallinienkorrektur
  • Hohe Messgenauigkeit (bis zu μin) mit ausgezeichneter Stabilität
  • Schnelle zerstörungsfreie Messung (bis zu 10s)
  • Analysiert Feststoffe und Lösungen mit qualitativen, semi-quantitativen und quantitativen Fähigkeiten
  • Materialidentifizierung und Klassifizierungsdetektion
  • Umfassende Datenstatistiken (Durchschnitt, Standardabweichung usw.)
  • Mehrere Ausgabeoptionen (Drucken, PDF, Excel) mit umfassender Berichterstattung
  • Messpositionsvorschau mit 30× optischer Vergrößerung
  • Globaler Service und technischer Support
Technische Parameter
Parameter Spezifikation
Messbereich der Elemente Aluminium (Al) - Uran (U)
Detektor SDD
Kollimatortypen Festes Einzelloch (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm)
Optisches Pfadsystem Vertikale Bestrahlung
Vergrößerung Optik: 40-60×
Anzeigemodi Elementarspektrum, Etikettenmuster, Elemente und Messwerte
Kamera Hochauflösende Industriekamera mit lokaler Vergrößerung
Anwendungen Einzel-/Doppelbeschichtung, Legierungsbeschichtung, Galvanisierlösung
Eingangsspannung AC220V±10% 50/60HZ
Kommunikation High-Speed-USB-Übertragung
Abmessungen 555*573*573mm (410*478*245mm Hohlraum)
Röntgenquelle Hochpräzise Mikro-Fokussierungs-Lichtröhre (W-Target)
Software-Funktionen FP-Algorithmus, automatische Fehlerdiagnose/-korrektur, automatische Kompensation
Standardkonfiguration
SDD-Halbleiterdetektor
  • Elektrisch gekühlter SDD-Halbleiterdetektor
  • Auflösung: 129 ± 5 EV
  • Verstärkungsschaltungsmodul für die Detektion von charakteristischen Röntgenstrahlen der Probe
Röntgenanregungsgerät
  • Maximaler Filamentstromausgang: 1mA
  • Semi-Verlust-Komponente, 50W, Luftkühlung
Hochdrucksender
  • Maximale Spannungsausgabe: 50kV
  • Mindestens 5kV steuerbare Einstellung
  • Eingebauter Überspannungsschutz
HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor 0 HXRF-450S XRF Schichtdickenmessgerät mit SDD-Detektor 1

Größe und Tag:

Zerstörungsfreie Prüfmaschine,

Ausrüstung Zerstörungsfreier Prüfung,

Inspektionswerkzeuge zerstörungsfreier Prüfung

Kontaktdaten
HUATEC GROUP CORPORATION

Ansprechpartner: Ms. Shifen Yuan

Telefon: 8610 82921131,8618610328618

Faxen: 86-10-82916893

Senden Sie Ihre Anfrage direkt an uns (0 / 3000)

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