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Produktdetails:
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| Messbereich: | 0,01 μSv/h ~ 500 μSv/h | Energiereaktion: | 40Kev3Mev |
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| Empfindlichkeit: | 350 cps/μSv/h | Relativer Fehler, nicht mehr: | ± 15% |
| Hervorheben: | NaI Scintillation Strahlungsdetektor,hohe Empfindlichkeit Gamma-Sonde,X-Gamma-Strahlungsüberwachung |
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FJ-3025 NaI-Szintillationsdetektor mit hochempfindlicher X-Gammastrahlungsüberwachungssonde
Merkmale:
Echtzeitmessung von γ- und Röntgenstrahlung am Arbeitsplatz
Verfügt über eine 485-Kommunikationsschnittstelle und unterstützt das Modbus-Protokoll
Kompatibel mit Host-Steuergeräten oder übergeordneter Überwachungssoftware
Hochempfindlicher NaI-Szintillatordetektor
Technische Spezifikationen
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Messbereich |
0,01 μSv/h ~ 500 μSv/h |
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Energiereaktion |
40keV~3MeV |
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Empfindlichkeit |
350 cps/μSv/h |
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Relativer Fehler, nicht mehr |
±15 % |
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Ansprechzeit |
≤1s(10μSv/h) |
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Betriebstemperaturbereich |
-20℃~+50℃ |
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Relative Luftfeuchtigkeit |
≤98% |
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Versorgungsspannung |
Gleichstrom 7 V ~ 24 V |
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Statischer Stromverbrauch |
12V/5mA |
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Abmessungen |
Durchmesser 45 mm, Länge 120 mm (ohne Steckerhöhe) |
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Gewicht |
0,6 kg |
Lieferumfang:
Sonde, Datenkommunikationsprotokoll oder spezielle Datenanalysesoftware
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Ansprechpartner: Ms. Shifen Yuan
Telefon: 8610 82921131,8618610328618
Faxen: 86-10-82916893